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半导体高低温试验箱
  • 产品型号:DR-H201-20D
  • 更新时间:2024-10-25
简要描述:

在半导体生产过程中,高低温试验箱用于对半成品和成品进行严格的温度环境测试,以确保每一批产品都符合质量要求。半导体高低温试验箱它能够模拟各种恶劣温度条件,对半导体产品进行全面的质量检测,从而确保产品在各种工作环境下都能表现出良好的性能。

产品详情

半导体高低温试验箱规格参数:

型号                    

DR-H201-80                    

DR-H201-150                    

DR-H201-225                    

DR-H201-408                    

DR-H201-800                    

内箱尺寸W×H×D(cm)                    

40×50×40                    

50×60×50                    

50×75×60                    

60×85×80                    

100×100×80                    

外箱尺寸W×H×D(cm)约                    

110×136×71                    

117×146×85                    

117×166×91                    

140×176×101                    

170×186×111                    

内箱容积(L)                    

80                    

150                    

225                    

408                    

800                    

温度范围                    

A:-20℃~150℃  B: -40℃~150℃   C: -60℃~150℃   D: -70℃~150℃                    

湿度范围                    

20%~98%RH(10%~98%RH/5%~98%RH)                    

温湿度分布精度                    

2.0℃,3.0%RH                    

温湿度控制精度                    

±0.3℃;±2.5%RH                    

升温/降温时间                    

约3.0℃/分钟;约1.0℃/分钟                    

保温材质                    

耐高温高密度氯基甲酸乙醋泡沫绝缘体材料                    

冷却系统                    

气冷式/单段压缩机(-40℃)   气冷式/双段压缩机(-40℃~-70℃)                    

保护装置                    

无熔丝开关、(压缩机过载/冷媒高低压/超湿超温)保护开关、保险丝故障警告系统                    

配件                    

记录器(选购)、观视窗、50mm测试孔、PL箱内灯、隔板、干湿球纱布                    

电源                    

1φ 220V AC±10% 50/60Hz  /  3φ 380V AC±10% 50/60Hz                    





半导体高低温试验箱

半导体高低温试验箱

半导体高低温试验箱:严格遵循国际标准

符合国际标准的测试能力

高低温环境试验箱和高低温测试试验箱均严格遵循一系列国际和国内标准,确保测试结果的准确性和可靠性。这些标准包括但不限于:

GJB150.3 高温试验

GJB150.4 低温试验

GJB150.9 湿热试验

GB/T2423.22 温度变化试验

GB/T2423.3-93 湿热试验箱试验方法

GB/T2423.4-93 交变湿热试验方法

GB11158 高温试验箱技术条件

GB10589-89 低温试验箱技术条件

GB/T10586-89 湿热试验箱技术条件

GB/T2423.1-2001 低温试验箱试验方法

GB/T2423.2-2001 高温试验箱试验方法

高低温试验箱在电子产品测试中的重要性体现在以下几个方面:

  1. 确保产品可靠性:通过模拟恶劣的温度条件,高低温试验箱可以评估电子产品在高温或低温环境中的稳定性和可靠性,确保产品在实际使用中能够正常工作

  2. 质量控制:高低温试验箱是质量控制的重要组成部分,通过测试可以发现产品在设计、材料选择或制造过程中可能存在的潜在问题,从而及时进行改进,提高产品质量

  3. 环境适应性设计验证:在产品的研发阶段,高低温试验箱用于验证产品的环境适应性设计,确保产品能够在预期的环境条件下正常运行

  4. 符合行业标准:许多行业标准,如IEC 60068、MIL-STD-810G等,要求电子产品在上市前必须通过特定的高低温测试,以证明其符合标准要求

  5. 寿命预测和缺陷识别:通过高低温循环测试,可以预测产品的预期寿命,识别产品中的潜在问题和缺陷,从而进行质量改进

  6. 提升产品竞争力:在市场竞争激烈的环境下,通过高低温测试的产品能够提高其市场竞争力,因为这些产品已经被证明能够在各种环境下保持性能和可靠性

  7. 降低售后服务成本:通过高低温测试,可以减少产品因环境适应性问题导致的故障率,从而降低售后服务的成本

  8. 支持研发和创新:高低温试验箱为电子产品的研发提供了重要的测试支持,帮助研发人员了解产品在不同温度条件下的性能表现,从而推动产品的创新和改进



高低温试验箱的测试模式通常包括以下几种:

  1. 高温试验:模拟产品在高温环境下的适应性,测试产品在高温条件下的性能和稳定性。参考标准包括GB/T 2423.2、IEC 60068-2-2等

  2. 低温试验:模拟产品在低温环境下的适应性,测试产品在低温条件下的性能和稳定性。参考标准包括GB/T 2423.1、IEC 60068-2-1等

  3. 温度冲击试验:也称为温度循环试验或快速温变试验,模拟产品在温度急剧变化环境下的适应性。测试产品在高温和低温之间快速转换的耐受能力。参考标准包括IEC60068-2-14、GB2423.22等

  4. 湿热试验:模拟产品在高温高湿环境下的适应性,测试产品在湿热条件下的性能和稳定性。包括恒定湿热试验和交变湿热试验两种模式。

  5. 高低温交变试验:在高低温之间进行循环测试,模拟产品在温度变化环境下的适应性。这种模式可以一次性将需要做的高温、低温以及所需做的温度的时间设定在仪表参数内,试验箱会按照设定走程序

  6. 能效测试:评估高低温试验箱自身的能源效率,按照GB/T 33861-2017标准进行测试.


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