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  • DR-H502-8GJB150A2009淋雨试验机
    DR-H502-8GJB150A2009淋雨试验机

    GJB150A2009淋雨试验机是一种用于模拟自然环境下雨水对产品影响的设备,主要用于测试产品在潮湿环境中的性能和可靠性。通过模拟自然降雨环境来评估产品的防水等级,有利于发现被检测产品的缺陷,从而在产品上市前大大提高其性能。 。

    更新时间:2024-11-06
  • DR-H502-8综合淋雨试验箱
    DR-H502-8综合淋雨试验箱

    综合淋雨试验箱是一种用于模拟自然环境下雨水对产品影响的设备,主要用于测试产品在潮湿环境中的性能和可靠性。综合性能淋雨试验箱通过模块化设计,能够实现不同测试场景的切换,适用于电子产品的IPX防水等级测试、汽车部件的雨淋耐候性评估以及户外装备的不良天气模拟等。

    更新时间:2024-11-06
  • DR-H203-80L-7大型节能省电冷热冲击箱
    DR-H203-80L-7大型节能省电冷热冲击箱

    大型节能省电冷热冲击箱循环数是冷热冲击测试中的一个重要参数,它表示产品需要经历的温度变化循环次数。根据不同的标准和测试要求,循环次数可以变化。例如,ISO 16750-4和IEC 60068-2-14标准中推荐的循环数为5次,但实际应用中可能需要更多,如超过100次 。

    更新时间:2024-10-26
  • DR-H203-80L-4冷热冲击测试参数标准
    DR-H203-80L-4冷热冲击测试参数标准

    冷热冲击测试参数标准应考虑产品的具体应用环境和测试目的,选择合适的温度范围、恒温时间、温度变化速率和循环次数,以确保测试结果的准确性和有效性。同时,应遵循相关的国际和国内标准,确保测试的标准化和可比性。

    更新时间:2024-10-26
  • DR-C303-A8汕尾臭氧老化试验箱价格
    DR-C303-A8汕尾臭氧老化试验箱价格

    汕尾臭氧老化试验箱价格因品牌、型号和配置的不同而有所差异。比较不同供应商的报价,考虑长期运行和维护的成本。设备应具备升级和扩展的能力,以适应未来可能的实验需求变化。选择信誉好、市场评价高的制造商,以确保设备的质量和技术支持。确认供应商提供充分的售后支持,包括保修条款、维修服务和技术咨询。

    更新时间:2025-06-21
  • DR-C303-A7中山品质好的臭氧老化试验箱
    DR-C303-A7中山品质好的臭氧老化试验箱

    中山品质好的臭氧老化试验箱的臭氧浓度范围,通常以pphm(百万分之一)或PPM(百万分之一)表示。例如,10~1000pphm或5~500PPM(可选),臭氧浓度的控制精度通常为±10% 。温度范围:试验箱可以设置的温度范围,如0℃~70℃,或RT+10~80℃等,以及温度的均匀度、波动度和偏差。例如,温度均匀度为±2℃,温度波动度为±0.5℃ 。

    更新时间:2025-06-21
  • DR-C303-A6GBT12528臭氧老化试验箱
    DR-C303-A6GBT12528臭氧老化试验箱

    GBT12528臭氧老化试验箱适用于非金属材料和橡胶类制品在静态拉伸或连续的动态拉伸变形下,或在间断的动态拉伸与静态拉伸交替的变形下暴露于密闭无光照含有恒定臭氧浓度的空气和恒温的试验箱中检测,从试验表面发生的龟裂或其他性能的变化程度,以评定橡胶的耐臭氧老化性能。

    更新时间:2025-06-21
  • DR-C303-A5拉伸臭氧老化试验箱供应
    DR-C303-A5拉伸臭氧老化试验箱供应

    拉伸臭氧老化试验箱供应是一种模拟材料在臭氧环境下老化性能的设备,它特别适用于测试材料在受到拉伸应力的同时暴露于臭氧环境中的耐老化性能。这种试验箱对于橡胶、塑料、涂料、纺织品等多种材料的研究、生产和质量控制至关重要。配备高精度的臭氧检测仪,能够连续在线检测臭氧浓度,确保试验过程中臭氧浓度的稳定性和准确性。

    更新时间:2025-06-21
  • DR-H203-80L-3箱式冷热冲击试验箱定做
    DR-H203-80L-3箱式冷热冲击试验箱定做

    箱式冷热冲击试验箱定做需要经过一系列的步骤,以确保最终产品满足特定需求和标准。首先,与客户沟通确认其具体需求,包括测试样品的尺寸、所需的温湿度范围、温湿度均匀度等。这些信息将用于绘制箱体结构图和计算所需配件,进而进行初步报价。

    更新时间:2024-10-25
  • DR-H203-80L-2冷热温度冲击试验箱
    DR-H203-80L-2冷热温度冲击试验箱

    冷热温度冲击试验箱温度循环测试:半导体器件在生产和使用过程中可能会遇到温度的快速变化,冷热冲击试验箱可以模拟这些变化,测试器件在温度循环下的耐久性。例如,根据JESD22-A104标准,测试半导体在恶劣温度变化下的性能,包括温度范围(-65℃~150℃)、冲击温度(-40℃、-55℃、-65℃以及65℃、85℃、125℃)、冲击时间(小于3分钟)、保持时间(30或60分钟)以及总测试循环次数。

    更新时间:2024-10-25
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